Explicación
Generalmente: nebulización para líquidos y ablación láser para sólidos.
En ICP-OES se usa para generar fotones de luz por excitación de los elementos presentes en la muestra desde su estado fundamental a un nivel electrónico más energético. En ICP-MS se usa para generar iones cargados positivamente.
Se suele colocar en posición axial.
Se tienen que tomar muchas precauciones instrumentales para evitar que los fotones emitidos por la muestra lleguen al detector, ya que pueden provocar un aumento del ruido en la señal medida.
(Juraría que ICP-OES no tiene conos, al menos no se habla nada de ello en los apuntes).
Ya que MS solo mide cationes, el resto no nos interesa.
Es más alta. Vacío en MS: 10-6 torr. Vacío en cámara de vacío: 7.5 torr (último dato de internet).
El más usado es cuadrupolo.
Independientemente del dispositivo, el propósito es el mismo: permitir el paso de iones de la muestra con m/z determinada y que lleguen al detector y filtrar el resto de iones.
Son mucho más sencillos.
Sirve para análisis cuantitativo y cualitativo.
Sí es el más utilizado, pero es debido a que realiza análisis muy rápidos en análisis rutinarios de trazas de metales en comparación a otras técnicas.
Sí se suele producir, y es una de las interferencias más comunes.
Tiempos inferiores a 50 microsegundos.
La señal que se registra va en función de la m/z, y si dos especies tienen la misma relación, aparecerán solapadas.
Se suelen resolver con equipos MS-ICP-MS.
Cuando son inferiores.
La formación de iones poliatómicos se suele corregir con un blanco, otras corrigiendo todos los puntos que los provocan, y otras veces utilizando para medir un sótopo del analito con una masa diferente.
Pueden tener carga múltiple aquellos elementos con una segunda energía de ionización más baja que la primera del argón.
Se pueden evitar diluyendo la muestra, separando las especies que provocan ese efecto matriz o cambiando el método de introducción de muestra.
Se usa patrón interno como una forma de eliminar o minimizar el efecto matriz.